SuperViewW非接觸式3D白光干涉儀基于白光干涉原理,可測各類(lèi)從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀(guān)幾何輪廓、曲率等參數。
SuperViewW白光干涉3D材料表面輪廓儀采用白光干涉技術(shù),結合具有抗噪性能的3D重建算法,真實(shí)還原樣品的每一個(gè)細節??梢酝ㄟ^(guò)重建后的樣品表面3D圖像觀(guān)察表面形貌,樣品表面形貌展示得更加清晰,圖像更大,觀(guān)察更加方便。
SuperViewW白光干涉微觀(guān)三維形貌測量?jì)x測量單個(gè)精細器件的過(guò)程用時(shí)短,確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。
SuperViewW納米級微觀(guān)三維形貌3D白光干涉儀主要用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量。它能以3D非接觸方式,測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數和尺寸。
SuperViewW高精度納米量級白光干涉測量?jì)x是一款用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量的檢測儀器。具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測量單個(gè)精細器件的過(guò)程用時(shí)短,確保了高款率檢測。
SuperViewW科研級三維白光干涉儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量的檢測儀器。它具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測量單個(gè)精細器件的過(guò)程用時(shí)短,確保了高款率檢測。
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