簡(jiǎn)要描述:?CH系列光學(xué)影像坐標測量?jì)x又名影像測量?jì)x、測量影像儀、影像式精密測繪儀,光學(xué)測量?jì)x,三維測量,2.5D測量,是依托于計算機屏幕測量技術(shù)和強大的空間幾何運算軟件而存在的精密測量?jì)x器。具有高穩定性、高精度、高效率等特點(diǎn),能夠滿(mǎn)足現代工業(yè)大批量、高精度的測量需求。
產(chǎn)品分類(lèi)
Product Category詳細介紹
品牌 | 中圖儀器 | 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) |
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加工定制 | 是 |
CH系列光學(xué)影像坐標測量?jì)x又名影像測量?jì)x、測量影像儀、影像式精密測繪儀,光學(xué)測量?jì)x,三維測量,2.5D測量,是依托于計算機屏幕測量技術(shù)和強大的空間幾何運算軟件而存在的精密測量?jì)x器。具有高穩定性、高精度、高效率等特點(diǎn),能夠滿(mǎn)足現代工業(yè)大批量、高精度的測量需求。
a.以非接觸式的光學(xué)測量為主,接觸式測量為輔,各傳感器的快速切換,可進(jìn)行全且準的測量任務(wù);
B.效率高,非接觸式測量利用光學(xué)測量技術(shù)無(wú)需接觸產(chǎn)品表面,可實(shí)現效率高的測量;
c.通用性強,光學(xué)測量針對接觸式測量無(wú)法實(shí)現接觸的特征,可通過(guò)光學(xué)放大及光強調節進(jìn)行測量,如微型特征,深槽內特征及接觸易變形材料或薄件等。
CH系列光學(xué)影像坐標測量?jì)x采用大理石主體機臺和精密伺服控制系統,實(shí)現低分貝級運動(dòng)測量;充分發(fā)揮光學(xué)電動(dòng)變倍鏡頭的高精度優(yōu)勢,將傳統影像測量與激光測量技術(shù)相結合,可以實(shí)現2.5D和3D的復合測量:實(shí)現各種復雜零件的表面尺寸、輪廓、角度與位置、形位公差等精密測量。
1.量測工具:掃描提取邊緣點(diǎn)、多段提取邊緣點(diǎn)、圓形提取邊緣點(diǎn)、橢圓提取、框選提取輪廓線(xiàn)、聚焦點(diǎn)、最近點(diǎn)等。
2.可測幾何量: 點(diǎn)、線(xiàn)、圓(圓心坐標、半徑、直徑)、圓弧、中心、角度、距、線(xiàn)寬、孔位、孔徑、孔數、孔到孔的距離、孔到邊的距離、弧線(xiàn)中心到孔的距離、弧線(xiàn)中心到邊的距離、弧線(xiàn)高點(diǎn)到弧線(xiàn)高點(diǎn)的距離、交叉點(diǎn)到交叉點(diǎn)的距離等。
3.構建特征:交點(diǎn)、中心點(diǎn)、極值點(diǎn)、端點(diǎn)、兩點(diǎn)連線(xiàn)、平行線(xiàn)、垂線(xiàn)、切線(xiàn)、平分線(xiàn)、中心線(xiàn)、線(xiàn)段融合、半徑畫(huà)圓、三線(xiàn)內切圓、兩線(xiàn)半徑內切圓等。
4.形位公差:直線(xiàn)度、圓度、輪廓度、位置度、平行度、對稱(chēng)度、垂直度、同心度、平行度等形位公差評定。
5.坐標系:儀器坐標系、點(diǎn)線(xiàn)、兩點(diǎn) X、兩線(xiàn)等工件坐標系;圖像配準坐標系;可平移、旋轉、手工調整坐標系。
6.快速工具:R角、水平節距、圓周節距、篩網(wǎng)、槽孔、輪廓比對、彈簧、O型圈等特殊工具快速測量。
7.支持公差批量設置、比例等級劃分、顏色自定義管理。
CH系列影像儀測量?jì)x的核心部件,都是經(jīng)過(guò)精密的組裝調校,測試,才能達到精度要求,實(shí)現可靠運行,是穩定可靠測量設備。
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