納米科技的迅猛發(fā)展將我們的視野拓展到了微觀(guān)世界，而測量納米級尺寸的物體和現象則成為了時(shí)下熱門(mén)的研究領(lǐng)域。納米級測量?jì)x器作為一種重要的工具，扮演著(zhù)重要的角色。那么，如何才能準確測量納米級物體呢？

在納米級測量中，由于物體尺寸的相對較小，傳統的測量?jì)x器往往無(wú)法滿(mǎn)足精確的要求。而納米級測量?jì)x器具備高精度、高分辨率和非破壞性的特點(diǎn)，可以測量微小的尺寸。

1、光學(xué)3D表面輪廓儀

SuperViewW1光學(xué)3D表面輪廓儀以白光干涉技術(shù)原理，通過(guò)測量干涉條紋的變化來(lái)測量表面三維形貌，專(zhuān)用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測量。

2、激光共聚焦顯微鏡

VT6000激光共聚焦顯微鏡以轉盤(pán)共聚焦光學(xué)系統為基礎，結合高穩定性結構設計和3D重建算法共同組成測量系統，能用于各種精密器件及材料表面的非接觸式微納米測量。能測量表面物理形貌，進(jìn)行微納米尺度的三維形貌分析，如3D表面形貌、2D的縱深形貌、輪廓（縱深、寬度、曲率、角度）、表面粗糙度等。

3、臺階儀

CP200臺階儀不同于光學(xué)輪廓儀和顯微鏡的是它的測量方式是接觸式探針測量。它可以對微米和納米結構進(jìn)行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測量。線(xiàn)性可變差動(dòng)電容傳感器（LVDC），具有亞埃級分辨率，13um量程下可達0.01埃。高信噪比和低線(xiàn)性誤差，使得產(chǎn)品能夠掃描到幾納米至幾百微米臺階的形貌特征。

除了上述所提及的儀器外，還有一些其他的納米級測量?jì)x器也日益成為研究的熱點(diǎn)，例如激光干涉儀。這些測量工具各有特點(diǎn)，可用于不同的納米級尺寸測量需求。

納米級測量?jì)x器在納米科技研究領(lǐng)域中扮演著(zhù)重要的角色。通過(guò)共聚焦顯微鏡、光學(xué)輪廓儀等的運用，科研人員們能夠更加深入地了解納米世界的奧秘。